Böblingen, 8. März 2023 – Keysight zeigt auf der embedded world 2023 (vom 14. bis 16. März 2023 in Nürnberg), wie Design-, Emulations- und Testexpertise zu den besten Embedded-Design-Erfahrungen führen und intelligente Erkenntnisse für IoT-Netzwerke, autonomes Fahren und Batterien liefern kann.
Keysight-Experten werden in Halle 4, Stand 208 die folgenden Demos zeigen, die Innovationen vorantreiben, um Risiken zu reduzieren und die Markteinführung zu beschleunigen:
Embedded Design und Test
- Electrical Performance Scan: Vorführung von Keysights Electrical Performance Scan (EP-Scan), der ersten der neuen PathWave High-Speed Digital (HSD) Apps. EP-Scan ist eine eigenständige Software zur elektromagnetischen Simulation von Signalnetzen, Kanalrückflussdämpfung, Einfügedämpfung und Impedanz-Zeitbereichsreflexion.
- IoT und Embedded Systeme: Vorstellung der Lösung X8712A zur Optimierung der Batterielaufzeit von IoT-Geräten mit einem DC-Leistungsanalysator, 20-W- oder 80-W-Batterieentladungsanalysator-SMU-Modulen, Hochfrequenz-Ereignisdetektor und spezieller Software. Außerdem wird die IoT-Wireless-Testlösung der Serie IOT8700 von Keysight für WLAN- und Bluetooth® Low Energy-Geräte demonstriert.
- High-Speed Digital Test: Zeigt die komplette PCIe-Lösung von Keysight zum Testen digitaler Hochgeschwindigkeitsdesigns in allen Phasen der Produktentwicklung – von Design und Simulation über Analyse und Debugging bis hin zu Konformitätstests.
- Labor-Oszilloskope: Im Mittelpunkt stehen die Labor-Oszilloskope der Infiniium EXR- und MXR-Serie, die alle wichtigen Signale aufschlussreich darstellen und Entwicklern dabei helfen, innerhalb von Minuten statt Stunden vom Symptom zur Ursache und zur Lösung zu gelangen.
Testtools für das Labor
Presseaktivitäten: Setzen Sie sich mit Matthias Heise (matthias.heise@mexperts.de) in Verbindung, um Termine für Pressegespräche und Demos zu vereinbaren.
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